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| 產地 | 國產 | 加工定制 | 是 |
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數據采集儀
者較高采樣速率的振動、噪聲、沖擊等信號采集，Z高采樣頻率1MHz，采用16 位高速AD 芯片、多通道并行、連續大容量設計，性能穩定可靠，可在具備USB2.0 高速接口的計算機上即插即用，具有精度高、失真小、噪聲低、通道*性好、匹配性能好的優點，可與DASP 系列軟件相連，形成具有一百余項先進技術的高性能數據采集和信號處理系統。
主要技術指標
Z高采樣頻率：1.024MHz/實際采樣通道數
并行通道*性：幅值0.05dB，相位0.2度
數據采集儀
通道間串擾：-100dB
A/D分辨率：16位
輸入量程：±5V
輸入噪聲：<0.5mVrms @±5V量程
輸入阻抗：>1MΩ
輸入接頭：BNC
頻率誤差：<0.01%
幅值誤差：<1%
幅值線性度：<0.025%
總諧波失真：<0.01%
采集深度：連續，僅受硬盤和操作系統限制
外形*：302×235×82mm @ 32/64通道
302×235×57mm @ 16通道
接口：USB2.0，即插即用，支持熱插拔
操作系統：Windows 98/Me/2000/XP
應用軟件：DASP系列全部軟件
質量體系：ISO9001:2000質量體系認證,GB/T19001:2000國內質量體系認證
許
 | 產品名稱：礦用粉塵采樣器 產品型號：CCZ20 |
礦用粉塵采樣器型號：CCZ20
產品簡介：
CCZ20型礦用粉塵采樣器時有高性能吸氣泵、自動時間控制電路、流量調節電路、自動反饋恒流電路、欠壓保護報警電路、安全電源等組成。具有無脈動氣流、負壓、負載能力大。自動定時采樣、安全可靠、堅固耐用、使用方便等特點。 可廣泛使用于工礦企業，勞動安全、衛生及環境保護等部門，測定環境空氣中浮游粉塵的濃度。
產品特點及用途
CCZ20 型礦用粉塵采樣器（以下簡稱采樣器）為短時、可調流量式粉塵采樣器，是一種用于測定環境空氣中浮游粉塵濃度的常規儀器。該采樣器配合微量天平可測量計算出含塵空氣中呼吸性粉塵，非呼吸性粉塵及總粉塵的質量。其分離效能符合“BMRC” 呼吸性粉塵分離效能標準曲線的要求，是一種較為可靠測塵裝置。采樣器具有自動定時采樣，無脈動氣流，負載能力大，安全可靠，堅固耐用，便于攜帶和現場使用等優點。
該采樣器于工礦企業、勞動安全、勞動衛生及環境保護等部門的粉塵監測，特別于煤礦井下及其它含有爆炸危險性氣體的作業場所使用。
主要技術指標：
項目技術指標
采樣器流量20L/min
采樣器流量誤差≤5.0%FS
采樣器流量穩定性≤3.0﹪FS(30min內)
負載能力≥200Pa
連續工作時間≥100min
流量計準確度2.5級
防爆等級Exibd I
外形尺寸200x140x80mm
重量1.8kg
 | 產品名稱：非接觸厚度電阻率測試儀 產品型號：JXNRT1 |
非接觸厚度電阻率測試儀型號：JXNRT1
一、測試原理
1、電阻率測試探頭原理
電阻率測試模塊是由一對共軸渦流傳感器，以及后續的處理電路組成。將半導體硅片置于兩個探頭的間隙中時，在電磁場的作用下，半導體硅片中會產生渦流效應，通過檢測渦流效應的大小，可以換算出該硅片的電阻率和方塊電阻。本方法是一種非接觸無損測量的方法，不損傷材料表面，可以在大多數場合有效替代四探針法測試電阻率以及方塊電阻。
2、厚度測試探頭原理
厚度探頭采用的是一對共軸電容位移傳感器。電容傳感器具有重復性好，測試數值穩定，技術成熟等優點，廣泛用于各種材料厚度的測試。
二、范圍
本設備為非接觸無損測量設備，測試過程中對硅片表面以及內部不會造成損傷。特別于代替四探針法用于半導體硅片成品分選檢驗。一臺儀器可以同時對厚度和電阻率兩個指標進行測試分選，減少了測試工序和測試時間，提高了測試效率。
典型的客戶：科研單位、硅片生產廠商、半導體器件生產廠商、光伏企業、導電薄膜生產企業。
三、儀器構成
1、測試主機：1 臺
2、電源線：1 根
3、串口數據線：1 根
4、電腦端軟件：1 套
5、塑料定位柱：2 個
四、儀器外觀尺寸結構及圖片
1、整機尺寸：340*260*180mm
2、機箱顏色：電腦白
3、儀器結構：本儀器采用厚度探頭和電阻率探頭前后并列安裝的方式。
五、儀器主要指標
1、電氣規格
a. 使用標準三插頭，由 220V 交流電供電，整機功耗小于 15 瓦。
b. 本儀器測試平臺和外殼均為金屬材料，按照安全規范，請確保電源地線正確連接。
2、測試范圍
測試樣品要求：厚度小于 600um 的半導體硅片以及其他類似材料。(為客戶提供特殊定制，厚度大的測試范圍可以擴展到 800um)
電阻率范圍： L 檔： 0.2-5 Ω·cm
H 檔： 5-50 Ω·cm
注： 電阻率不在上述量程范圍內的可以按要求調整， 調整的范圍可以在0.001-100Ω*cm。
厚度范圍： 100-600 um （定制版可以做到 300-800um） 注：普通版本厚度大于 700um 的硅片無法放入測試區域。
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